【51CTO.com綜合報(bào)道】美國(guó)西蒙的面向40Gb/s 和 100Gb/s 的OM4 和 OM3 MTP 組件遠(yuǎn)超嚴(yán)格的 IEC 和 TIA/EIA 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的基于最新的Encircled Flux測(cè)試方法的要求

美國(guó)西蒙，全球領(lǐng)先的通訊布線領(lǐng)導(dǎo)廠商，今天宣布其基于MTP的 OM4 和 OM3 plug and play 即插即用光纖產(chǎn)品已經(jīng)通過(guò)了關(guān)鍵的 IEC 和 TIA/EIA 性能測(cè)試。測(cè)試結(jié)果顯示了相比10Gb/s 和 40/100Gb/s 標(biāo)準(zhǔn)要求的強(qiáng)有力的性能余量。測(cè)試由領(lǐng)先的獨(dú)立的第三方測(cè)試機(jī)構(gòu) Experior 實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行，測(cè)試結(jié)果證實(shí)了美國(guó)西蒙的面向40 Gb/s 和100Gb/s的 plug and play 組件遠(yuǎn)超標(biāo)準(zhǔn)要求的嚴(yán)格的插入損耗和終端幾何要求，性能余量高達(dá) 60%。

“在高帶寬多芯光纖排列的系統(tǒng)如美國(guó)西蒙的基于MTP的40Gb/s 和 100Gb/s 的plug and play，擴(kuò)展的性能余量是特別重要的。”美國(guó)西蒙的光纖產(chǎn)品經(jīng)理Charlie Maynard說(shuō)道。“由不同測(cè)試設(shè)備和參考跳線帶來(lái)的測(cè)試不一致性，以及現(xiàn)場(chǎng)的玷污，使得工廠端接的光纖組件在現(xiàn)場(chǎng)安裝后難以確保性能的一致水平。而美國(guó)西蒙很強(qiáng)的plug and play性能余量即使在考慮清潔度和測(cè)試不確定性的情況下，依然可以確保滿足性能要求。”

獨(dú)立測(cè)試覆蓋了多種信道配置，包括美國(guó)西蒙的基于OM3和OM4的 MTP-to-MTP的線纜組件； MTP-to-LC 即插即用模塊；MTP-to-LC 光纖跳線；LC 光纖跳線和 MTP-to-MTP 適配器面板。所有的西蒙產(chǎn)品和信道配置都各自通過(guò)了最新的IEC 61280-4-1 Edition 2 和 TIA/EIA-455-171A測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的插入損耗和回波損耗測(cè)試。

這些最新的 IEC 和 TIA/EIA 測(cè)試流程使用新的Encircled Flux 方法， 這個(gè)方法限制了由可變的光纖發(fā)射模式帶來(lái)的負(fù)面影響，得到了更加準(zhǔn)確的多模光纖插入損耗和回?fù)軗p耗的測(cè)試結(jié)果。Encircled flux 方法比起以前的測(cè)試方法可以減少高達(dá)75％的測(cè)試可變性，確保了更加準(zhǔn)確的結(jié)果，并幫助消除了不真實(shí)的通過(guò)率。更加準(zhǔn)確的encircled flux 測(cè)試方法顯示了所有被測(cè)的西蒙產(chǎn)品都具有顯著的性能余量。

另外，所有的西蒙 MTP 連接頭都通過(guò)了IEC 61300-3-30 Ed 1.0 對(duì)性能至關(guān)重要的終端幾何測(cè)試。

“除了西蒙實(shí)驗(yàn)室廣泛的測(cè)試之外，獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室對(duì)西蒙plug and play 光纖系統(tǒng)的性能余量的證實(shí)進(jìn)一步加強(qiáng)了西蒙在高性能數(shù)據(jù)中心線纜上的領(lǐng)導(dǎo)地位。”西蒙全球市場(chǎng)副總裁 Robert Carlson說(shuō)，“我們廣泛的產(chǎn)品線使得我們可以為我們的數(shù)據(jù)中心用戶提供最適合他們的解決方案，從面向40Gb/s 和 100Gb/s的 Plug and Play 光纖系統(tǒng)，到10Gb/s UTP、F/UTP 和全屏蔽雙絞線銅纜系統(tǒng)到SFP+，QSFP+ 銅纜和光纖高速互連組件－所有這一些都已經(jīng)通過(guò)了獨(dú)立的測(cè)試，并遠(yuǎn)超標(biāo)準(zhǔn)要求。”

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